Sleuthworks 公 司 於1992 年 成 立 ，開始致力於晶片良率提升的工作。1980 年 代 由 Hewlett-Packard 公 司 授 權 創 辨 人 將 wafer-level tracking 研 究 計 畫 帶 至 SEMATECH 進 一 步 開 發 成 Wafer Sleuth 應 用 軟 體 正 式 推 廣 於 半 導 體 產 業 界。

對 產 業 界 的 貢 獻:

今 天, 大 多 數 SEMATECH 成 員 公 司 和 全 世 界 許 多 半 導 體 製 造 商 ，都 已 接 受 了 使 用 Sleuthworks 的 軟 體 成 為 他 們 的 半 導 體 製 造 過 程 的 一 環。 至 今 Wafer Sleuth 程 式 已 記 錄 和 分 析 過 七 億 以 上 的 晶 片。 在 過 去 二 十 年 來 ，Wafer Sleuth 軟 體 用 晶 片 位 置 紀 錄 的 分 析 方 法 ，在 100mm, 125mm, 150mm, 200mm, 與 300mm 晶 片 工 廠 ，解 決 了 許 多 最 不 容 易 查 出 和 昂 貴 的 晶 片 良 率 損 失 的 肇 因。

公 司 創 辨 人:

Gary Scher 與 James Sorensen 在 使 用 wafer-level tracking 解 決 晶 片 良 率 問 題 的 這 個 領 域 裡 合 計 有 近 50 年 的 經 驗。 他 們 一 起 管 理 Sleuthworks 核 心 開 發 小 組 和 服 務 在 美 國 和 亞 太 地 區 工 廠 客 戶。 二 人 除 了 一 起 發 表 和 半 導 體 製 造 業 改 善 良 率 有 關 的 論 文 ，也 幫 助 SEMI 製 定 了 晶 片 traceability 規 則 的 標 準。